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FC倒装芯片的种类及封装工艺区别分析
FCBGA(倒装芯片球栅阵列封装)
结构特点:芯片通过焊球阵列倒装焊接在基板上,采用高密度球栅阵列实现电气连接,基板多为陶瓷或有机材料。
应用领域:高性能计算(如CPU、GPU)、AI芯片、笔记本电脑等对散热和电性能要求高的场景。
优势:散热性能优异(芯片背面直接接触空气)、高I/O密度、抗电磁干扰能力强。
FCCSP(倒装芯片级封装)
结构特点:采用更薄的基板,通过RDL(再布线层)技术实现高密度互连,封装尺寸接近芯片本身。
应用领域:移动设备(如智能手机)、汽车电子、物联网等对小型化和轻量化需求高的场景。
优势:体积小、信号传输路径短、电气性能优越,适用于高频率、低功耗场景。
C4(控制塌陷芯片连接)
技术特点:使用高熔点焊球(如97Pb/3Sn),适用于陶瓷基板,需高温(320℃)焊接。
应用场景:航空航天、高可靠性要求的MCM(多芯片模块)封装。
工艺步骤差异
采用RDL技术实现焊盘重分布,通过热压或热冷却焊接完成互连,封装后无需额外塑封。
对凸点(Bump)制作工艺要求更高,需解决微米级焊球精度问题。
流程包括芯片倒装、焊球阵列焊接、树脂封装,需精密对准焊球与基板焊盘。
需底部填充工艺(Underfill)以分散热应力,提升焊点可靠性。
FCBGA:
FCCSP:
材料与基板选择
FCBGA基板多为高密度有机或陶瓷材质,成本较高但散热性能强。
FCCSP基板更薄,通常采用低成本有机材料,需优化热膨胀系数(CTE)匹配以减少应力。
焊接技术对比
FCBGA采用传统回流焊,需控制焊球塌陷高度和均匀性。
FCCSP多使用热压焊或超声波焊接,适用于微凸点(如铜柱凸点),需避免焊料桥连。
可靠性挑战
FCBGA需解决基板翘曲和热循环导致的焊点疲劳问题,依赖底部填充材料优化。
FCCSP因结构轻薄更易受机械应力影响,需通过柔性凸点设计或低模量胶材提升抗冲击性。
集成化:FCBGA向更大尺寸、更高I/O数量发展(如3000+I/O),FCCSP则向异质集成(如SiP)演进。
低成本化:推动有机基板替代陶瓷基板,优化凸点制作工艺以降低材料成本。
先进工艺:引入铜-铜直接键合、激光辅助焊接等新技术,提升互连密度和可靠性。
通过上述分类和工艺对比,可见FC封装技术需根据具体应用场景(如性能需求、成本、尺寸)选择最优方案,同时持续优化材料和工艺以应对高密度、高可靠性的挑战。
FC倒装芯片清洗剂选择:
水基清洗的工艺和设备配置选择对清洗精密器件尤其重要,一旦选定,就会作为一个长期的使用和运行方式。水基清洗剂必须满足清洗、漂洗、干燥的全工艺流程。
污染物有多种,可归纳为离子型和非离子型两大类。离子型污染物接触到环境中的湿气,通电后发生电化学迁移,形成树枝状结构体,造成低电阻通路,破坏了电路板功能。非离子型污染物可穿透PC B 的绝缘层,在PCB板表层下生长枝晶。除了离子型和非离子型污染物,还有粒状污染物,例如焊料球、焊料槽内的浮点、灰尘、尘埃等,这些污染物会导致焊点质量降低、焊接时焊点拉尖、产生气孔、短路等等多种不良现象。
这么多污染物,到底哪些才是最备受关注的呢?助焊剂或锡膏普遍应用于回流焊和波峰焊工艺中,它们主要由溶剂、润湿剂、树脂、缓蚀剂和活化剂等多种成分,焊后必然存在热改性生成物,这些物质在所有污染物中的占据主导,从产品失效情况来而言,焊后残余物是影响产品质量最主要的影响因素,离子型残留物易引起电迁移使绝缘电阻下降,松香树脂残留物易吸附灰尘或杂质引发接触电阻增大,严重者导致开路失效,因此焊后必须进行严格的清洗,才能保障电路板的质量。
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