因为专业
所以领先
混合键合(Hybrid Bonding)作为半导体封装领域的革命性技术,正在颠覆传统制造工艺并加速半导体行业向3D集成时代迈进。以下是其核心影响与技术路径的详细分析:
无凸块直接互连
混合键合摒弃了传统焊料凸块,通过铜-铜直接键合和介质-介质键合实现芯片垂直堆叠。这一技术将互连间距从传统微凸块的数十微米缩小至亚微米级(如Imec已实现400纳米间距),使互连密度提升数倍至每平方毫米700万连接点,为高带宽、低延迟的芯片设计奠定基础。
三维异构集成
支持不同工艺节点、材料和功能的芯片堆叠(如逻辑芯片+存储器),突破传统单芯片性能极限。例如:
AMD 3D V-Cache:采用台积电SoIC-X技术,通过混合键合将缓存直接堆叠于CPU核心,显著提升算力;
HBM存储器:SK海力士和三星计划利用混合键合实现更高层数堆叠,优化散热与带宽。
能效与散热优化
直接铜互连降低电阻,减少信号传输能耗;紧凑结构缩短布线长度,降低延迟。同时,垂直堆叠改善散热路径,缓解3D芯片的热管理难题。
重构制造流程
前端工艺与封装的融合:混合键合需在洁净度达ISO 3级或更高的环境中完成,要求晶圆级表面处理(如CMP抛光)与高精度对准(±50nm级),推动制造流程向更高集成度演进。
设备与材料革新:如青禾晶元推出全球首台C2W&W2W双模式键合设备,支持芯片/晶圆灵活堆叠;Resonac开发专用CMP浆料提升晶圆平整度。
设计范式转型
从2D到3D设计思维:工程师需重新规划芯片布局,利用垂直空间优化性能与功耗。台积电预测,3D封装将逐步替代2.5D成为主流。
IP生态系统重塑:标准化芯粒(Chiplet)接口与混合键合兼容性成为关键,推动开放式芯粒生态发展。
成本与良率挑战
颗粒污染敏感性:1微米颗粒即可导致键合失效,需引入智能检测与清洁技术。
退火工艺优化:需平衡铜膨胀与键合强度,如三星开发原子层蚀刻技术精确控制铜间隙。
AI与高性能计算
英伟达H100/H200 GPU、苹果iPhone 18 Pro计划采用混合键合,提升AI算力与能效。
高带宽内存(HBM)通过混合键合实现更薄堆叠层,降低热阻并提高密度。
存储技术升级
3D NAND闪存利用混合键合分离外围电路与存储单元,提升制造效率与性能。
消费电子与汽车电子
CMOS图像传感器(如索尼)通过混合键合缩小模组尺寸并提升成像质量;
自动驾驶芯片整合雷达与计算单元,满足低延迟与高可靠性需求。
市场规模爆发
Yole预测,2029年混合键合市场规模将达380亿美元,占先进封装市场近半份额。
产业链协同创新
设备厂商:BESemiconductor、应用材料、东京电子加速设备研发,台积电与英特尔推进量产;
材料与工艺:低温键合、单晶铜连接等新技术持续突破。
中国厂商崛起
芯慧联新、青禾晶元等企业实现国产设备突破,推动国内3D封装生态建设。
混合键合通过高密度互连、异构集成和能效优化,成为延续摩尔定律与超越摩尔定律的双重驱动力。尽管面临洁净度、良率与成本挑战,其技术成熟度与产业链协同效应已显现,将重构半导体制造范式,推动AI、存储与消费电子迈入3D集成新时代。
先进芯片封装清洗介绍
· 合明科技研发的水基清洗剂配合合适的清洗工艺能为芯片封装前提供洁净的界面条件。
· 水基清洗的工艺和设备配置选择对清洗精密器件尤其重要,一旦选定,就会作为一个长期的使用和运行方式。水基清洗剂必须满足清洗、漂洗、干燥的全工艺流程。
· 污染物有多种,可归纳为离子型和非离子型两大类。离子型污染物接触到环境中的湿气,通电后发生电化学迁移,形成树枝状结构体,造成低电阻通路,破坏了电路板功能。非离子型污染物可穿透PC B 的绝缘层,在PCB板表层下生长枝晶。除了离子型和非离子型污染物,还有粒状污染物,例如焊料球、焊料槽内的浮点、灰尘、尘埃等,这些污染物会导致焊点质量降低、焊接时焊点拉尖、产生气孔、短路等等多种不良现象。
· 这么多污染物,到底哪些才是最备受关注的呢?助焊剂或锡膏普遍应用于回流焊和波峰焊工艺中,它们主要由溶剂、润湿剂、树脂、缓蚀剂和活化剂等多种成分,焊后必然存在热改性生成物,这些物质在所有污染物中的占据主导,从产品失效情况来而言,焊后残余物是影响产品质量最主要的影响因素,离子型残留物易引起电迁移使绝缘电阻下降,松香树脂残留物易吸附灰尘或杂质引发接触电阻增大,严重者导致开路失效,因此焊后必须进行严格的清洗,才能保障电路板的质量。
· 合明科技运用自身原创的产品技术,满足芯片封装工艺制程清洗的高难度技术要求,打破国外厂商在行业中的垄断地位,为芯片封装材料全面国产自主提供强有力的支持。
上一篇:使用水基清洗剂清洗线路板的小技巧